Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) con EDAX
- Microscopio electrónico de barrido FEI Inspect F50.
- Potencial de aceleración de electrones desde 0.2 hasta 30 kV.
Magnificación desde 14 hasta 1000 000x - Catodoluminescencia UV-VIS-IR
- EDX
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) con EDAX