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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) con EDAX

Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) con EDAX
  • Microscopio electrónico de barrido FEI Inspect F50.
  • Potencial de aceleración de electrones desde 0.2 hasta 30 kV.
    Magnificación desde 14 hasta 1000 000x
  • Catodoluminescencia UV-VIS-IR
  • EDX
Aquí se puede descargar el IMPRESO DE SOLICITUD DE SERVICIOS
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