Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) con EDAX Microscopio electrónico de barrido FEI Inspect F50.Potencial de aceleración de electrones desde 0.2 hasta 30 kV.Magnificación desde 14 hasta 1000 000xCatodoluminescencia UV-VIS-IREDX Aquí se puede descargar el IMPRESO DE SOLICITUD DE SERVICIOS