Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
Universidad Politécnica de Madrid


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CaracterizaciĆ³n óptica de láseres y detectores
 
 

Sistema de caracterización óptica de detectores UV
  • Lámpara de Xe de 150 W para medidas en el UV y visible
  • Criostato Oxford ITC502 (300 - 8 K)
  • Monocromador Jobin-Yvon (200-750 nm)
  • Osciloscopio digital Yokogawa DL1720 (500MHz)
Sistema de caracterización óptica de detectores IR
  • Monocromador Jovin-Yvon HC25
  • Lámpara de IR ORIEL 6363
  • Criostato APD Cryogenics
  • Analizador de espectros Stanford Research SR780
Banco de caracterización de láseres de semiconductor y equipos electrónicos asociados
  • Detector de alto ancho de banda de InGaAs + Boxcar
  • Fuente de Corriente en pulsado y continuo hasta 500mA ILXLightwave 3811
  • Estación de puntas
 

 

 

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