Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
Universidad Politécnica de Madrid


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Servicios

 
Los servicios disponibles en CT-ISOM responden a las áreas de investigación realizadas en el ISOM y a las instalaciones disponibles, siguiendo el siguiente esquema:
 
  • CRECIMIENTO DE MUESTRAS
    • Depósitos en evaporadoras Joule (Au, Au, AuGe, AuZn, Ni, etc)
    • Depósitos en evaporadoras por cañón de electrones (Au, Pt, Ti, Al, etc.)
    • Depósito químico en fase de vapor (CVD) de aislantes (sistemas Si-O-N)
    • Pulverización catódica (Sputtering) de materiales magnéticcos (Fe, Ni, Co, FeNi, etc)
    • Epitaxia de haces moleculares (MBE) de semiconductores (familias AlGaInAs y AlGaInN)
    • Electrodeposición de capas de Au, Ni, CoP, etc.
    • Fabricación de puentes aéreos de contacto
  • TÉCNICAS DE PROCESADO
    • Litografía
      • Nanolitografía "e-line" (resolución de línea > 10 nm)
      • Litografía electrónica (eBL) (resolución > 300 nm)
      • Fotolitografía (resolución > 1 micra)
      • Diseño máscaras ópticas
    • Tratamiento Químico, Mecánico y Térmico
      • Limpieza (orgánicos, ácidos, bases...)
      • Pulido (máquina, manual)
      • Corte de precisión
      • Ataque Seco (RIE)
      • Ataque húmedo
      • Recocido convencional
      • Recocido rápido, RTA
    • Soldadura y encapsulado
      • Soldadura con hilos a cápsula portadora
      • Encapsulado en TO-5
      • Encapsulado en TO-8
      • Otros encapsulados
  • CARACTERIZACIÓN DE MUESTRAS
    • Óptica
      • Preparación de muestras para medidas a baja temperatura y a temperatura ambiente
      • Medida de Fotoluminiscencia (IR-VIS-UV), en el rango 10-300K
      • Medida de electroluminiscencia
      • Medida de FTIRS (600 nm-20 micras)
    • Optoelectrónica
      • Preparación dispositivo
      • Medida de responsividad espectral de detectores (desde 12 micras a 200 nm)
      • Medida de emisión espectral láser (desde 600 a 1700 nm)
      • Medida de emisión espectral luminiscente (desde 200 nm a 2.5 micras)
      • Medida de curvas L-I de láseres en UV-VIS-IR
    • Eléctrica y Magnética
      • Medidas de resistividad, temperatura ambiente
      • Medida de propiedades de transporte por efecto Hall, variable con la temperatura (15-300K)
      • Medida de I-V y C-V, temperatura ambiente, dependencia con la temperatura y con la frecuencia
      • Medida de ciclos de histéresis en películas delgadas
    • Estructural y Microscopía
      • Medidas de espesores de láminas y perfiles
      • Fotografía microscopio de contraste y polarización
      • Preparación de muestras para estudio SEM
      • Caracterización EDX en SEM, con referencia
      • Caracterización de superficies en SEM
      • Caracterización AFM y MFM
      • Espectro de Difracción de Rayos-X
 

Aquí se puede descargar el impreso de solicitud de acceso a la CT-ISOM en formato MS-Word: IMPRESO DE SOLICITUD


Acceso a la: Oferta de servicios subvencionados por el Ministerio de Economía y Competitividad


 

 

 

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